超新芯7月上新|高真空檢漏儀全新升級

超新芯上新啦

高真空檢漏儀2.0

01產(chǎn)品介紹

高真空檢漏儀是透射電鏡原位系統(tǒng)的重要配套設(shè)備，在進(jìn)行每一次原位實(shí)驗(yàn)時(shí)，都必須經(jīng)過高真空檢漏儀的檢漏測試，以確保原位樣品桿及原位芯片的密封狀態(tài)，防止對電鏡產(chǎn)生損壞。因此，高真空檢漏儀的可靠性、單次檢漏的耗時(shí)是影響客戶體驗(yàn)的重要因素。超新芯科技秉持客戶第一的理念，對產(chǎn)品持續(xù)進(jìn)行迭代升級。希望客戶不僅能用好原位系統(tǒng)，也希望原位系統(tǒng)越來越好用。

02設(shè)計(jì)優(yōu)化：經(jīng)過持續(xù)不斷的設(shè)計(jì)優(yōu)化，超新芯高真空檢漏儀迎來了2.0版本，檢漏耗時(shí)及極限真空等性能均得到了提升。

①檢漏耗時(shí)減少：達(dá)到4.6×10-6hPa，耗時(shí)減少30%；達(dá)到1.0×10-6hPa，耗時(shí)減少50%。

（測試數(shù)據(jù)源于超新芯LAB，@26℃）

②極限真空提升：連續(xù)工作20h，真空值~10-8hPa，相同測試時(shí)間內(nèi)的真空值提升一個(gè)數(shù)量級。

（測試數(shù)據(jù)源于超新芯LAB，@26℃）

配置清單